Probing the Dynamics of Two-Level System Defect Ensembles via Broadband Cryogenic Transient Dielectric Spectroscopy
Este artículo presenta la Espectroscopía Dieléctrica Transitoria de Banda Ancha Criogénica (BCTDS, por sus siglas en inglés), una novedosa técnica a nivel de oblea que utiliza la dinámica de fase transitoria bajo una fuerte excitación de microondas para caracterizar el comportamiento dependiente de la frecuencia y los desplazamientos inducidos por el termociclado de los defectos de sistemas de dos niveles (TLS) en dieléctricos, ofreciendo así una herramienta poderosa para comprender las fuentes de decoherencia en circuitos cuánticos superconductores.