Origin of mixed anisotropy in crystalline Permalloy and amorphous Cobalt thin films individually deposited on Si substrate
Este estudio investiga la evolución de las anisotropías magnéticas mixtas en películas delgadas cristalinas de Permalloy y amorfas de Cobalto depositadas mediante pulverización catódica por radiofrecuencia (rf-sputtered) sobre sustratos de Si, revelando cómo las condiciones de crecimiento y el espesor de la película inducen la inclinación de la magnetización y definiendo regímenes de anisotropía distintos para mejorar el rendimiento de los dispositivos espintrónicos.