Unraveling the Defect Physics of SiC Micropipe Sidewalls by Non-Line-of-Sight Confocal Spectromicroscopy: Amphoteric Giant Traps
Este trabajo presenta una técnica de espectromicroscopía confocal no en línea de visión que revela que las paredes laterales de microporos de SiC actúan como trampas gigantes anfóteras con altas densidades de estados de niveles profundos, las cuales dominan la recombinación de portadores y facilitan las corrientes de fuga mediante transporte asistido por trampas.