SemiConLens: Visual Analytics for 2D Semiconductor Discovery
SemiConLens es un sistema de análisis visual que integra un nuevo método de imputación multivariada consciente de la correlación (CAMI) con visualizaciones interactivas para superar los desafíos de escasez y fiabilidad de los datos, permitiendo así a los investigadores de materiales descubrir y evaluar eficazmente candidatos prometedores de semiconductores 2D.