Label Efficient Segmentation of SiC–C–Si Phases in SiC-based Ceramics from Optical Micrographs Using a Compact U-Net
Este artículo presenta un flujo de trabajo eficiente en cuanto al uso de etiquetas que combina la agrupación CIELAB no supervisada para generar máscaras de proximidad con una arquitectura U-Net compacta para lograr una segmentación rápida, reproducible y precisa de las fases de SiC, silicio libre y carbono en micrografías cerámicas, superando significativamente los métodos de umbralización tradicionales en condiciones de bajo contraste al tiempo que permite la cuantificación de la fracción de fase de alto rendimiento.