Sivers Tomography from Charge and Angle Only
Este artículo propone un método teóricamente limpio y experimentalmente sencillo para sondear el efecto Sivers en la dispersión inelástica profunda utilizando un correlador de carga de un punto que depende exclusivamente de los signos y direcciones de las trazas cargadas, eliminando así la necesidad de identificación de partículas o funciones de fragmentación y permitiendo al mismo tiempo predicciones resumidas precisas a N³LL/N²LL.