Adaptive, symmetry-informed Bayesian metrology for precise quantum technology measurements
Los autores presentan una estrategia de metrología bayesiana adaptativa e informada por simetrías que optimiza la estimación de parámetros en el límite de pocos datos, logrando una reducción de cinco veces en la varianza fraccional y acelerando la recolección de datos en experimentos de tecnología cuántica.