High-Resolution Atomic Magnetometer-Based Imaging of Integrated Circuits and Batteries
Este artículo presenta un sistema de imagen magnética de alta resolución basado en un magnetómetro óptico bombeado (OPM) con un espejo de barrido, capaz de lograr una sensibilidad sub-picotesla y una resolución espacial mejorada para el diagnóstico no invasivo de circuitos integrados y baterías.