Dynamic thermal sensitivity of microwave cryogenic sapphire resonator
Este artículo revela que un efecto de memoria causado por el tiempo de relajación de impurezas de Cr3+ en resonadores de zafiro criogénico induce histéresis y sensibilidad térmica dinámica, lo que degrada la estabilidad de frecuencia de osciladores ultraestables al crear un pico distintivo en la desviación de Allan a tiempos de integración de 10 segundos.