MAS-CCD: New technique for measuring low-level charge content based on the multiple amplifier architecture
Este artículo presenta una nueva técnica basada en el análisis de covarianza de los amplificadores de salida de los sensores MAS-CCD para medir de forma rápida y precisa la carga espuria, un parámetro crítico que actualmente resulta difícil de cuantificar con los métodos convencionales.