Calculation of the brilliance of advanced accelerator-based x-ray sources
Este artículo propone una caracterización de brillanteza actualizada para fuentes de rayos X avanzadas basadas en aceleradores utilizando una métrica de ancho de banda del 0,01% para corregir sobreestimaciones en regímenes longitudinalmente coherentes, al tiempo que proporciona expresiones generales más precisas y una longitud de saturación de forma cerrada al contabilizar perfiles de electrones no uniformes y el escalamiento de la duración del pulso.