Linear dichroic soft X-ray microscopy of ferroelectric stripe domains in epitaxial K0.6Na0.4NbO3
Cette étude démontre que le amincissement local d'un substrat de TbScO3 permet d'obtenir la transparence aux rayons X mous nécessaire pour imager par dichroïsme linéaire des domaines de ferroélectricité en rayures dans des films minces de K0.6Na0.4NbO3, résolvant ainsi des structures à l'échelle nanométrique (44 nm) précédemment inaccessibles.
M. Schneider, T. A. Butcher, S. Wagner, D. Metternich, C. Klose, E. Malm, R. Battistelli, V. Deinhart, J. Fuchs, S. Wittrock, T. Karaman, K. Puzhekadavil Joy, M. Patras, F. Büttner, S. Wintz, M. Wei (…)2026-03-17🔬 cond-mat.mtrl-sci