Probing the Dynamics of Two-Level System Defect Ensembles via Broadband Cryogenic Transient Dielectric Spectroscopy
Cet article introduit la Spectroscopie Diélectrique Transitoire à Large Bande (BCTDS), une nouvelle technique au niveau du wafer qui utilise la dynamique de phase transitoire sous une forte excitation micro-onde pour caractériser le comportement dépendant de la fréquence et les décalages induits par les cycles thermiques des défauts de systèmes à deux niveaux (TLS) dans les diélectriques, offrant ainsi un outil puissant pour comprendre les sources de décohérence dans les circuits quantiques supraconducteurs.