Device-scaling constraints imposed by the van der Waals gap formed in two-dimensional materials
Cet article révèle que le gap de van der Waals aux interfaces des matériaux bidimensionnels, bien qu'il réduise les fuites diélectriques, impose des limites sévères à la mise à l'échelle des transistors en augmentant la résistance de contact et la capacité parasite, suggérant ainsi des interfaces de type « fermeture éclair » comme solution pour les designs ultra-miniaturisés.