Event-sparse stack denoising for 4D-STEM applications
Cet article introduit le débruitage de pile à événements parcimonieux pour la 4D-STEM, une méthode qui exploite les données d'événements électroniques résolus en temps et des algorithmes basés sur la parcimonie pour atteindre une qualité d'image comparable avec des doses d'électrons considérablement réduites tout en améliorant la sensibilité de détection des défauts et en permettant une estimation critique de la dose.