Experimental Error Modeling and Post-Processing Correction of NanoVNA Measurements Using Low-Cost Calibration Standards
Cet article présente et valide un cadre logiciel qui améliore la précision de mesure des instruments NanoVNA à bas coût en appliquant un modèle d'erreur dépendant de la fréquence, dérivé de données d'étalonnage standard, afin de corriger les erreurs systématiques et aléatoires résiduelles sans nécessiter de modifications matérielles ou de kits d'étalonnage coûteux.