High-Resolution Atomic Magnetometer-Based Imaging of Integrated Circuits and Batteries
Cet article présente un système d'imagerie magnétique haute résolution basé sur un magnétomètre à pompage optique (OPM) et un miroir microscopique, capable d'atteindre une sensibilité de 0,5 pT/√Hz et une résolution spatiale sub-millimétrique pour l'analyse non invasive de circuits intégrés et de batteries.