Dynamic thermal sensitivity of microwave cryogenic sapphire resonator
Ce papier révèle qu'un effet de mémoire causé par le temps de relaxation des impuretés Cr3+ dans les résonateurs en saphir cryogéniques induit une hystérésis et une sensibilité thermique dynamique, ce qui dégrade la stabilité de fréquence des oscillateurs ultra-stables en créant un pic distinct dans la déviation d'Allan à des temps d'intégration de 10 secondes.