Bright Spot Characterization of Low dI/dt X-pinch Plasmas using Soft X-ray Spectroscopy with Bennett Relation
Cette étude caractérise les plasmas d'X-pinch à faible taux de montée du courant en combinant la spectroscopie des rayons X mous et la relation de Bennett, révélant que la source d'émission est un « point brillant » de haute densité et température plutôt qu'un « point chaud » extrêmement comprimé, grâce à la correction des effets non linéaires des photodiodes AXUV.