Tracking thermal transport in colloidal quantum dot films using in-situ time-resolved X-ray diffraction
यह अध्ययन कोलाइडल CdSe/CdS क्वांटम डॉट्स की तापीय प्रतिक्रिया को गैर-आक्रामक रूप से चित्रित करने के लिए इन-सिटू टाइम-रिज़ॉल्व्ड एक्स-रे विवर्तन का उपयोग करता है, जो पतली फिल्मों में अत्यंत कम तापीय चालकता (0.55 W m⁻¹ K⁻¹) और तरल फैलाव में प्रमुख इंटरफेशियल तापीय चालकता (~15 MW m⁻² K⁻¹) को प्रकट करता है।