Predicting electric-field noise in ion traps using fluctuation electrodynamics
यह शोध पत्र केवल पदार्थ ऊर्जा हानि (material energy loss) का उपयोग करते हुए, किसी भी मनमाने माइक्रोफैब्रिकेटेड सतह आयन ट्रैप (microfabricated surface ion trap) में विद्युत-क्षेत्र शोर (electric-field noise) की भविष्यवाणी करने के लिए उतार-चढ़ाव इलेक्ट्रोडायनामिक्स (fluctuation electrodynamics) पर आधारित एक सामान्य विधि प्रस्तुत करता है, जो एक विशिष्ट ट्रैप में देखे गए शोर को सफलतापूर्वक मॉडल करता है और विशिष्ट डिजाइनों में परिरक्षण प्रभावों (shielding effects) का विश्लेषण करता है।