Probing the Dynamics of Two-Level System Defect Ensembles via Broadband Cryogenic Transient Dielectric Spectroscopy
本論文は、強磁界マイクロ波励起下での過渡位相ダイナミクスを利用して、誘電体における二準位系(TLS)欠陥の周波数依存挙動および熱サイクル誘起のシフトを特性評価する、ウェハーレベルの新しい手法である広帯域極低温過渡誘電分光法(BCTDS)を紹介するものであり、それによって超伝導量子回路におけるデコヒーレンス源を理解するための強力なツールを提供する。