Rapid Autotuning of a SiGe Quantum Dot into the Single-Electron Regime with Machine Learning and RF-Reflectometry FPGA-Based Measurements
本論文は、機械学習アルゴリズムと FPGA 搭載の RF 反射測定技術を組み合わせることで、SiGe 量子ドットの安定性ダイアグラム測定時間を約 10 倍短縮し、単一電子領域への自動調整時間を 2.2 倍高速化したことを報告しています。