Ionization rate vs. laser intensity determined from ion count vs. peak intensity due to neutral gas exposure to an 800 nm ultrashort pulsed laser
本研究では、公開されている飛行時間型イオン分光器のデータを数値的に逆解析することにより、800 nmの超短パルスに対して、マイクロチャネルプレートの収集効率を再校正し、Oの結果を多光子断面積データに照らして検証しながら、局所的な瞬時レーザー強度(最大約300 TW/cmまで)の関数としてのAr、O、およびNの光学サイクル平均電離率を決定する。