Titanic overconfidence -- dark uncertainty can sink hybrid metrology for semiconductor manufacturing
半導体製造におけるハイブリッド計測が、異なる測定手法の結果の不一致を無視して不確かさを過小評価する「暗黙の不確かさ(ダーク・アンセタインティ)」に直面しており、これを無視したモデルは目標達成を不可能にするほど過信を招くため、ランダム効果モデルなどの適切な統計手法を用いて不確かさを正しく評価・低減する実践指針が提示されています。