Rapid and high-sensitive NV-based microwave field imaging via digital lock-in amplification for on-chip microstrip diagnostics
本論文は、ダイヤモンド窒素空孔中心とデジタルロックイン増幅を組み合わせた、高速かつ高感度な広視野マイクロ波イメージング技術を提示するものであり、126 nT/の磁場感度とマイクロスケールの分解能を実現することで、オンチップデバイスの準リアルタイムかつ非破壊的な診断を可能にしている。