Patent Citation Networks Anticipate Technology Lock-In Risk: Multimodal Evidence from China’s Semiconductor Industry
본 연구는 특허 인용 네트워크 구조가 중국 반도체 산업의 전통적인 성과 지표가 악화되기 전에 기술적 고착(technology lock-in) 위험을 효과적으로 예측할 수 있음을 입증하며, 이를 통해 특히 대규모 특허 보유 기업을 위한 조기 경보 스크리닝 도구로서의 기술적 고착 위험 지수(TLRI) 개발을 가능하게 한다.