Probing the Dynamics of Two-Level System Defect Ensembles via Broadband Cryogenic Transient Dielectric Spectroscopy
Dit artikel introduceert Broadband Cryogenic Transient Dielectric Spectroscopy (BCTDS), een nieuwe techniek op waferniveau die gebruikmaakt van transiënte fasedynamiek onder sterke microgolfexcitatie om het frequentieafhankelijke gedrag en de door thermische cycli geïnduceerde verschuivingen van twee-niveau systeem (TLS) defecten in diëlektrica te karakteriseren, waardoor een krachtig hulpmiddel wordt geboden voor het begrijpen van decoherentiebronnen in supergeleidende kwantumcircuits.