Dielectric Tensor of CrSBr from Spectroscopic Imaging Ellipsometry
In dit artikel wordt met behulp van spectroscopische beeldellipsometrie en Mueller-matrixanalyse het volledige diëlektrische tensor van paramagnetische CrSBr-dunne films bepaald, waarbij de sterke optische anisotropie en twee hoofd-excitonische banden rond 1,3 eV en 1,7 eV worden gekarakteriseerd.