SemiConLens: Visual Analytics for 2D Semiconductor Discovery
SemiConLens is een visueel analytics-systeem dat een nieuwe Correlation Aware Multivariate Imputation (CAMI)-methode integreert met interactieve visualisaties om uitdagingen op het gebied van data-schaarste en betrouwbaarheid te overwinnen, waardoor materiaalkundigen effectief veelbelovende 2D-halfgeleiderkandidaten kunnen ontdekken en evalueren.