Unraveling the Defect Physics of SiC Micropipe Sidewalls by Non-Line-of-Sight Confocal Spectromicroscopy: Amphoteric Giant Traps
Dit artikel introduceert een niet-lijn-van-zicht confocale spectromicroscopietechniek om aan te tonen dat SiC-micropijp-zijwanden fungeren als amfotere gigantische valkuilen met hoge dichtheden van diepe-niveaustoestanden, die de ladingsdragerrecombinatie domineren en lekkagestromen via valkuil-gemedieerd transport faciliteren.