Dynamic thermal sensitivity of microwave cryogenic sapphire resonator
Dit artikel onthult dat een geheugeneffect veroorzaakt door de relaxatietijd van Cr3+-onzuiverheden in cryogene saffierresonatoren hysterese en dynamische thermische gevoeligheid induceert, wat de frequentiestabiliteit van ultra-stabiele oscillatoren verslechtert door een duidelijke piek in de Allan-afwijking bij 10-seconde integratietijden te creëren.