Maximal global device-independent randomness from projective measurements in every dimension
Dit artikel toont aan dat projectieve metingen op bipartiete kwantumsystemen met een lokale dimensie de theoretisch maximale bits aan device-onafhankelijke willekeur kunnen certificeren voor elke met behulp van expliciete protocollen gebaseerd op onderling ongelijksoortige bases, terwijl het tegelijkertijd hun robuustheid tegen experimentele ruis bewijst.