Separate and efficient characterization of state-preparation and measurement errors using single-qubit operations
Dit artikel presenteert een protocol dat onafhankelijk is van de diepte van het circuit en efficiënt fouten in de staatvoorbereiding en meting scheidt en karakteriseert met behulp van uitsluitend single-qubit operaties, waarbij de toepassing ervan op IBM Quantum-apparaten wordt gedemonstreerd en de bias wordt benadrukt die wordt geïntroduceerd in de mitigatie van meetfouten wanneer fouten in de staatvoorbereiding worden genegeerd.