Synchrotron-radiation X-ray topography and reticulography of bulk -GaO crystals grown from a crucible-free melt
Este estudo investiga as propriedades estruturais de cristais únicos de -GaO crescidos pelo método de cadinho frio, utilizando topografia e reticulografia de raios X de radiação síncrotron para caracterizar a alta qualidade cristalina, o desenvolvimento de desorientação de rede do tipo torção e a distribuição de discordâncias, fornecendo insights para a otimização das condições de crescimento.