SemiConLens: Visual Analytics for 2D Semiconductor Discovery
SemiConLens é um sistema de análise visual que integra um novo método de Imputação Multivariada Consciente de Correlação (CAMI) com visualizações interativas para superar os desafios de escassez e confiabilidade de dados, permitindo assim que pesquisadores de materiais descubram e avaliem efetivamente candidatos promissores a semicondutores 2D.