Unraveling the Defect Physics of SiC Micropipe Sidewalls by Non-Line-of-Sight Confocal Spectromicroscopy: Amphoteric Giant Traps
Este artigo introduz uma técnica de espectromicroscopia confocal não em linha de visada para revelar que as paredes laterais de micropipes de SiC atuam como armadilhas gigantes anfotéricas com altas densidades de estados de nível profundo, que dominam a recombinação de portadores e facilitam correntes de fuga através de transporte assistido por armadilhas.