Bi-directional digital twin prototype anchoring with multi-periodicity learning for few-shot fault diagnosis
Este artigo propõe um protótipo de gêmeo digital bidirecional com ancoragem de protótipos e aprendizado de multi-periodicidade para realizar diagnóstico de falhas eficiente em cenários de poucos dados, superando as limitações dos métodos tradicionais que dependem de grandes volumes de dados rotulados.