Quantifying High-LET Heavy-Ion-Induced Non-DSB Clustered DNA Lesions Using Geant4-DNA
Diese Studie erweitert das Geant4-DNA-Framework, um durch hoch-LET-schwerioneninduzierte, nicht-DSB-geclusterte DNA-Läsionen mit spezifischen oxidativen Basen zu simulieren und zu quantifizieren, wobei strukturell aufgelöste Schadensprofile bereitgestellt werden, die die Lücke zwischen der konventionellen Strangbruchanalyse und mechanistischen Modellen der Basenexzisionsreparatur schließen.