CDA-YOLO: An Improved YOLOv11 Model for PCB Defect Detection
El artículo propone CDA-YOLO, un marco de trabajo YOLOv11 mejorado que incorpora una Red de Pirámide de Características Bidireccional de nivel cruzado, un módulo de Convolución de Doble Escala ligero y un mecanismo de atención promedio libre de parámetros para mejorar significativamente la precisión de la detección de defectos en PCB al abordar los desafíos con objetivos diminutos y fondos complejos.