SemiConLens: Visual Analytics for 2D Semiconductor Discovery
SemiConLens est un système d'analyse visuelle qui intègre une nouvelle méthode d'imputation multivariée consciente des corrélations (CAMI) avec des visualisations interactives pour surmonter les défis liés à la rareté et à la fiabilité des données, permettant ainsi aux chercheurs en matériaux de découvrir et d'évaluer efficacement des candidats prometteurs pour les semi-conducteurs 2D.