Unraveling the Defect Physics of SiC Micropipe Sidewalls by Non-Line-of-Sight Confocal Spectromicroscopy: Amphoteric Giant Traps
Ce papier présente une technique de spectromicroscopie confocale hors ligne de visée révélant que les parois latérales des micropores de SiC agissent comme des pièges géants amphotères à forte densité d'états de niveau profond, lesquels dominent la recombinaison des porteurs et facilitent les courants de fuite par un transport assisté par pièges.