Quantitative models for excess carrier diffusion and recombination in STEM-EBIC experiments on semiconductor nanostructures
本論文では、走査透過電子顕微鏡を用いた電子線誘起電流測定におけるナノスケールの過剰キャリア輸送と再結合を定量化するモデルを提案し、複雑な酸化物 SrTi0.995Nb0.005O3 への適用を通じてその有効性と、10.2 nm という高精度な拡散長の決定を証明しています。