High-magnitude, spatially and directionally programmable, and sustained strain engineering of 2D semiconductors
本論文は、二光子リソグラフィーによってパターン形成された基板へのコンフォーマル転写を用いた新しい歪みエンジニアリング技術を提示するものであり、これにより単層MoS2およびヘテロ構造において、高振幅(>2%)かつ安定で、空間的および方向的にプログラム可能な歪みを実現し、高度なオプトエレクトロニクスおよびナノエレクトロニクス応用への大幅な局所バンドギャップチューニングを可能にする。