From phase transformation to amorphization: damage accumulation in Yb-implanted \b{eta}-Ga2O3
本研究は、-GaOへのYbイオン注入が、0.4 dpaにおける-GaOへの歪み誘起相変態を伴う多段階の損傷蓄積プロセス、それに続く欠陥駆動型の再編成、そして最終的な7 dpaでの表面アモルファス化を引き起こすことを明らかにしており、それによって、この材料に対して以前に想定されていた放射線耐性に疑問を投げかけている。