A versatile generalized digital twin for Electron Microscopy
Dit artikel presenteert een veelzijdige digitale tweeling voor transmissie-elektronenmicroscopie die elektronenstraal-trajecten simuleert en geautomatiseerde kalibratiehulpmiddelen biedt om complexe lensuitlijning te vereenvoudigen, waardoor een voorspellende opstelling van nieuwe beeldvormingsmodi mogelijk wordt en AI-gestuurde automatisering wordt gefaciliteerd.