Cosmetic Defect Detection in Semiconductors Using Deep Learning
Este artigo propõe uma estrutura de detecção de defeitos cosméticos baseada em aprendizado profundo para encapsulamento de semicondutores que integra uma infraestrutura de IIoT distribuída e aumento de dados sintéticos, demonstrando que a arquitetura YOLO11 alcança um desempenho superior com um mAP@0.5 de 93,5% em um conjunto de dados misto real-sintético.