Cosmetic Defect Detection in Semiconductors Using Deep Learning
Cet article propose un cadre de détection de défauts cosmétiques pour l'encapsulation de semi-conducteurs basé sur l'apprentissage profond, qui intègre une infrastructure IIoT distribuée et une augmentation de données synthétiques, démontrant que l'architecture YOLO11 atteint une performance supérieure avec un mAP@0.5 de 93,5 % sur un ensemble de données mixtes réelles-synthétiques.