Recovering Pre-Deletion Measurement Quality from Published Statistics: An Inverse Meta-Analysis of the Technology Readiness Index 2.0
यह शोध पत्र प्रकाशित अध्ययनों से विलोपन-पूर्व (pre-deletion) मापन गुणवत्ता सांख्यिकी को पुनः प्राप्त करने के लिए एक "इनवर्स मेटा-एनालिसिस" पद्धति प्रस्तुत करता है, जो यह प्रकट करता है कि टेक्नोलॉजी रेडिनेस इंडेक्स 2.0 में कमजोर मदों को हटाने की व्यापक प्रथा विश्वसनीयता मेट्रिक्स को कृत्रिम रूप से बढ़ा देती है और इसके अवरोधक आयामों (inhibitor dimensions) की वास्तविक कमजोरी को छिपा देती है।