A Comparative Study on the Efficiency of an SnO2/n-Si Photodetector Using a Planar Un-scratched and a CNC Mechanically Scratched Wafer
Deze studie toont aan dat het mechanisch krassen van een n-Si-wafer met een CNC-machine om een micro-gegroefde SnO2/n-Si-heterojunctie te creëren, de efficiëntie van fotodetectoren aanzienlijk verhoogt door de fotostroom, responsiviteit en responssnelheid te verbeteren via verbeterde lichtvangst en verminderde gevangenis-geassisteerde recombinatie, ondanks een afruil in specifieke detectiviteit veroorzaakt door een verhoogde donkerstroom.